在光譜分析工作中，測量結(jié)果的準(zhǔn)確性受多種因素影響，其中樣品的組織結(jié)構(gòu)和制備精度是兩個關(guān)鍵因素。
儀器所配備的校準(zhǔn)曲線是依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)樣品制作而成的。然而，標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)際試樣在冶煉工藝與制作過程上存在差異。標(biāo)準(zhǔn)樣品大多處于鍛造、軋制狀態(tài)，而試樣多為澆鑄狀態(tài)。這種加工過程的不同，致使它們的組織結(jié)構(gòu)大不相同，進(jìn)而對熔點(diǎn)、導(dǎo)熱性產(chǎn)生影響，還會改變其被光源激發(fā)的清晰程度，蕞終影響分析結(jié)果。例如，使用中低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)樣品（GSBH40068～93）驗(yàn)證曲線線性和準(zhǔn)確性時，發(fā)現(xiàn)硫元素的線性和準(zhǔn)確性偏離較大。為消除組織結(jié)構(gòu)不同帶來的影響，在光譜分析中可采取相應(yīng)措施。一方面，在原校正曲線基礎(chǔ)上，根據(jù)不同單位的樣品制作現(xiàn)場校準(zhǔn)曲線，讓校準(zhǔn)更貼合實(shí)際樣品情況；另一方面，用自制控制樣品進(jìn)行類型標(biāo)準(zhǔn)化，再用標(biāo)準(zhǔn)化后的曲線分析樣品，以此提高分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。
樣品的制備精度同樣對測量結(jié)果有著顯著影響，尤其是對硫元素。一般要求樣品表面潔凈、紋路清晰，且無氣孔、砂眼。若樣品存在氣孔、砂眼，會干擾激發(fā)效果，使測量結(jié)果偏高。紋路不清晰也會造成影響，同一塊樣品，若磨制后紋路不清晰，其分析結(jié)果與光譜儀實(shí)際含量對照會出現(xiàn)較大偏差；而重新磨制使紋路清晰后再分析，結(jié)果就會與光譜儀實(shí)際含量測定值接近。
由此可見，在光譜分析過程中，要充分重視樣品的組織結(jié)構(gòu)和制備精度。通過合理制作校準(zhǔn)曲線、規(guī)范樣品制備流程等措施，有效減少這些因素對測量結(jié)果的干擾，從而獲取更準(zhǔn)確、可靠的分析數(shù)據(jù)，為后續(xù)的生產(chǎn)和研究提供有力支撐。