在材料分析、環(huán)境監(jiān)測(cè)、地質(zhì)勘探等眾多領(lǐng)域，復(fù)雜樣品的快速精準(zhǔn)檢測(cè)一直是核心需求，而傳統(tǒng)大型光譜設(shè)備受限于體積與操作流程，難以滿足現(xiàn)場(chǎng)即時(shí)分析的場(chǎng)景。伊瓦特便攜式光譜儀憑借X熒光光譜分析技術(shù)，以“多元素同時(shí)分析”的突破性能力，重新定義了現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的效率與精度邊界，成為復(fù)雜樣品分析的“移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室”。
X熒光光譜技術(shù)的核心原理在于，當(dāng)高能X射線照射樣品時(shí)，樣品中各元素的內(nèi)層電子被激發(fā)躍遷，外層電子填補(bǔ)空位時(shí)釋放特征X射線（即熒光），其能量與元素種類嚴(yán)格對(duì)應(yīng)。伊瓦特便攜式光譜儀通過硅漂移探測(cè)器（SDD）與多道分析器的協(xié)同工作，可同步捕捉樣品中數(shù)十種元素的熒光信號(hào)，實(shí)現(xiàn)從輕元素（如鈉、鎂）到重元素（如鉛、鈾）的全譜覆蓋。例如，在土壤重金屬污染檢測(cè)中，儀器可在30秒內(nèi)同時(shí)定量分析砷、鎘、汞、鉛等8種有毒元素，檢測(cè)限低至0.1ppm，遠(yuǎn)超傳統(tǒng)化學(xué)滴定法的靈敏度與速度。
針對(duì)復(fù)雜樣品基體干擾的難題，伊瓦特采用智能算法與矩陣校正技術(shù)，構(gòu)建了包含數(shù)萬組標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)庫(kù)。當(dāng)檢測(cè)合金、礦石等成分復(fù)雜的樣品時(shí)，儀器可自動(dòng)識(shí)別基體效應(yīng)（如吸收-增強(qiáng)效應(yīng)），通過多元回歸模型修正檢測(cè)結(jié)果。例如，在分析不銹鋼中的鉻、鎳含量時(shí)，即使樣品中鐵含量高達(dá)80%，儀器仍能將鉻的檢測(cè)誤差控制在±0.05%以內(nèi)，鎳的檢測(cè)重復(fù)性優(yōu)于0.1%，滿足ASTM E1507標(biāo)準(zhǔn)要求。
從產(chǎn)業(yè)應(yīng)用看，伊瓦特便攜式光譜儀已深度融入現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)全場(chǎng)景：在廢舊金屬回收中，儀器可快速區(qū)分304不銹鋼（鉻含量18%-20%）與201不銹鋼（鉻含量16%-18%），避免價(jià)值差異導(dǎo)致的經(jīng)濟(jì)損失；在考古現(xiàn)場(chǎng)，其非破壞性檢測(cè)能力可無損分析青銅器表面的銅錫配比，為文物修復(fù)提供數(shù)據(jù)支撐；在礦產(chǎn)勘探中，儀器可實(shí)時(shí)測(cè)定鉆孔巖芯中的金、銀、銅等元素含量，指導(dǎo)鉆探方向優(yōu)化。數(shù)據(jù)顯示，采用該儀器后，某礦山企業(yè)的勘探效率提升40%，年節(jié)約化驗(yàn)成本超200萬元。
伊瓦特便攜式光譜儀以X熒光技術(shù)為基石，通過多元素同步分析、智能基體校正與全場(chǎng)景適配能力，將實(shí)驗(yàn)室級(jí)檢測(cè)精度濃縮至手持設(shè)備之中，為復(fù)雜樣品分析提供了“隨測(cè)隨知”的解決方案，正成為現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)領(lǐng)域的標(biāo)桿工具。